Електронни части : SN54BCT8374AFK

Производител : Texas Instruments

Опаковка :

Pins :

Описание : SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE EDGE-TRIGGERED FLIP-FLOPS

Температура : Мин °C | Макс °C

Datasheet : SN54BCT8374AFK PDF

• SN54BCT8373A
• SN54BCT8373AFK
• SN54BCT8373AJT
• SN54BCT8374A
• SN54BCT8374AFK
• SN54BCT8374AJT
• SN54BCT8374A_08